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產(chǎn)品名稱： 掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II產(chǎn)品型號：產(chǎn)品時間： 2024-12-05掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 IIlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。
產(chǎn)品介紹
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
lexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
· 憑借*的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)最高的畫質(zhì)
· 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
· 大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
| 項目 | 內(nèi)容 |
| 分辨率*3 | 4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） |
| 加速電壓 | 0.3 kV～20 kV |
| 倍率 | ×6～×300,000 （照片倍率） |
| 低真空設(shè)置 | 6～100 Pa |
| 電子槍 | 集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament） |
| 樣品臺 | 3軸馬達驅(qū)動樣品臺 |
| 最大樣品尺寸 | 直徑80 mm（選配：直徑153mm） |
| 最大樣品高度 | 40 mm |
| 尺寸 | 機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm |
| 選項 | · 高敏感度低真空檢測器（UVD2.0） · 能量色散型X射線檢測器（EDS） |
| 軟件 | Multi Zigzag（連續(xù)視野圖像導(dǎo)入功能） |
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